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X線顕微鏡
X線顕微鏡（—せんけんびきょう）とは、X線をプローブとして観察する顕微法の総称である。可視光に比べて波長の短いX線を使用するため、空間分解能が高い画像を得ることができる可能性があり、注目されている。観測法としては結像型・走査型が、観測手段によりX線吸収・位相変化・蛍光X線などの利用がある。強度の強い光源が必要となるため、主にシンクロトロン放射光を利用して発達している。用いられる光学素子として最も代表的なのはゾーンプレートである。現在の分解能は 15 nm が最高値である。
その他のX線を利用した分析装置
リガク-XRD：SmartLab：：：Ｘ線反射率解析ソフトウェア GXRR：：：統合粉末Ｘ線解析ソフトウェア PDXL 2：：：配向の低い物の測定はラマンの巻の有機薄膜の配向測定参照：：Ｘ線領域での偏光測定
SAXS(小角X線散乱)
RIETAN-FP::Fox::GSAS::fullprof::free XRDsoft GSAGのGUImenu:EXPGUI, Menu Contents EXPGUI - A Graphical User Interface for GSAS PDIndexerGSAS TIPS (備忘録)::VICS -結晶構造可視化プログラム-結晶学的情報を収集 ラマンの巻:::::::::::::::::::::::::::::顕微の巻::::::::::::::::::::::::::::: 粗さの巻へ:::::::::::::::::::::::::::::